測(cè)量?jī)?nèi)窺鏡有哪些測(cè)量方法？

　　內(nèi)窺鏡自誕生之日起就展示了其眾多先進(jìn)之處。由于全數(shù)宇數(shù)據(jù)流和改進(jìn)的光學(xué)照明技術(shù)，成像質(zhì)量得到顯著改善。機(jī)載處理過程的集成大大擴(kuò)展了RVI的功能。通過網(wǎng)絡(luò)連通性極大促進(jìn)了數(shù)據(jù)共享。

　　測(cè)量?jī)?nèi)窺鏡除了缺陷檢查之外，有時(shí)還需要對(duì)缺陷進(jìn)行度量，以便進(jìn)行適當(dāng)?shù)木S護(hù)。因此，具有測(cè)量功能的工業(yè)內(nèi)窺鏡應(yīng)用更加廣泛。主要測(cè)量方法分為比較測(cè)量和絕對(duì)測(cè)量?jī)纱箢?，其中三維相位掃描測(cè)量和三維雙物鏡測(cè)量較為先進(jìn)。

　　比較測(cè)量?jī)?nèi)窺鏡:以檢測(cè)到的圖像中的一個(gè)已知尺寸為基準(zhǔn)，測(cè)量其他物體；絕對(duì)測(cè)量法:這種測(cè)量技術(shù)不需要參考，直接由系統(tǒng)本身獲得測(cè)量結(jié)果。絕對(duì)測(cè)量方法包括陰影測(cè)量、雙物鏡測(cè)量、三維相位掃描測(cè)量和三維雙物鏡測(cè)量。與其他測(cè)量方法相比，三維相位掃描測(cè)量方法和三維雙物鏡測(cè)量方法更先進(jìn)，因?yàn)樵谌S空間中測(cè)量具有許多優(yōu)點(diǎn)，如提高測(cè)量精度和減少人為誤差。三維相位掃描測(cè)量法，將多個(gè)相移光柵投影到被測(cè)物體表面，通過對(duì)條紋圖像的相位分析，獲得整個(gè)表面的三維數(shù)據(jù)信息和三維點(diǎn)云圖像，從而形成被測(cè)物體的三維模型，并在此基礎(chǔ)上進(jìn)行測(cè)量。

　　三維雙物鏡測(cè)量?jī)?nèi)窺鏡使用傳統(tǒng)的普通雙物鏡進(jìn)行測(cè)量，使用最新的算法和標(biāo)定處理技術(shù)進(jìn)行測(cè)量，即在傳統(tǒng)的普通雙物鏡測(cè)量的基礎(chǔ)上實(shí)現(xiàn)三維點(diǎn)云成像技術(shù)。以上是工業(yè)內(nèi)窺鏡，采用新型三維相位掃描法的側(cè)視圖進(jìn)行深度測(cè)量。